Circuito transistor tester M328

Circuito transistor tester M328 teste led

Transistor tester M328, com microcontrolador ATmega328, LCD-Display 128×64, mede resistor, indutor, capacitor, capacitor ESR, transistores bipolares NPN e PNP, MOSFETs de canal N e P, JFETs, diodos, diodos duplos, N-IGBT e P-IGBT, tiristores e Triacs.

Esquema transistor tester M328

Esquema Circuito Transistor Tester M328

Features circuit transistor tester M328

  • Deteção automática de transístores bipolares NPN e PNP, MOSFETs de canal N e P, JFETs, díodos, díodos duplos, N- e P-IGBTs, Tiristores e Triacs.
  • Para Tirístores e Triacs, a corrente de partida e a corrente de retenção devem ser atingidas com o aparelho de teste.
  • Para IGBTs, o sinal de 5V deve ser suficiente para conduzir a tensão de porta.
  • Deteção automática da disposição dos pinos da peça detectada.
  • Medição do fator de amplificação da corrente e da tensão de limiar base-emissor dos transístores bipolares.
  • Os transístores Darlington podem ser identificados pela tensão de limiar e pelo elevado fator de amplificação da corrente.
  • Deteção do díodo de proteção dos transístores bipolares e dos MOSFET.
  • Medição da tensão de limiar da porta, do valor da capacidade da porta e do RDSon a uma tensão de porta de quase 5V dos MOSFET.
  • São medidas até duas resistências e apresentadas com símbolos e valores com até quatro dígitos decimais na dimensão direita. Todos os símbolos estão rodeados pelos números de sonda do Dispositivo de Teste (1-3). Assim, o Potenciômetro também pode ser medido. Se o Potenciômetro for ajustado a uma das suas extremidades, o Dispositivo de Teste não pode diferenciar o pino do meio do pino da extremidade.
  • A resolução da medição de resistências é agora de até 0,01 Ω, sendo detectados valores até 50M Ω
  • Um capacitor pode ser detectado e medido. É apresentado com o símbolo e o valor com até quatro dígitos decimais na dimensão direita. O valor pode ser de 25pF (relógio de 8M Hz, 50pF @1M Hz relógio) a 100mF. A resolução pode ser de até 1pF (@8M Hz clock)
  • Para capacitores com um valor de capacidade superior a 20nF, a Resistência de Série Equivalente (ESR) é medida com uma resolução de 0,01 Ω e é apresentada com duas casas decimais significativas. Esta função só está disponível para ATmega com pelo menos 16K de memória flash.
  • Para capacitores com um valor de capacidade superior a 5000pF, é possível determinar a perda de tensão após um impulso de carga. A perda de tensão dá uma ideia do fator de qualidade do condensador.
  • São apresentados até dois díodos com símbolo ou símbolo na ordem correta. Adicionalmente, são apresentadas as tensões de fluxo.
  • O LED é detectado como um díodo, a tensão de fluxo é muito mais elevada do que o normal. Os LEDs dois-em-um também são detectados como dois díodos.
  • Os díodos Zener podem ser detectados, se a tensão de rutura inversa for inferior a 4,5V. Estes são mostrados como dois díodos, podendo identificar esta parte apenas pelas tensões. Os números das sondas exteriores, que rodeiam os símbolos dos díodos, são idênticos neste caso. O verdadeiro ânodo do díodo só pode ser identificado por aquele que tem uma tensão de rutura (limiar) próxima de 700mV!
  • Se forem detectadas mais de 3 peças de tipo díodo, o número de díodos encontrados é apresentado adicionalmente à mensagem de falha. Isto só pode acontecer se os díodos estiverem ligados às três sondas e pelo menos um for um díodo Z. Neste caso, deve ligar apenas duas sondas e recomeçar a medição, uma após a outra.
  • Medição do valor da capacidade de um único díodo em sentido inverso. Os transístores bipolares também podem ser analisados, se ligar a Base e apenas um dos Colectores ou Emissores. Se for utilizado um ATmega com mais de 8K de memória flash, também se mede a corrente inversa do díodo com uma resolução de 2nA. O valor só é apresentado na tela se for superior a zero.
  • É necessária apenas uma medição para descobrir as ligações de um retificador em ponte.
  • Os capacitores com valor inferior a 25pF normalmente não são detectados, mas podem ser medidos juntamente com um díodo ou um condensador paralelas com pelo menos 25pF. Neste caso, é necessário subtrair o valor da capacidade da peça ligada em paralelo. Para processadores com pelo menos 32K de memória flash, o testador muda para uma função especial de medidor de capacidade, se um capacitor com mais de 25pF for medido uma vez em TP1 e TP3. Neste modo de medidor de condensadores, pode medir diretamente condensadores inferiores a 25pF em TP1 e TP3.
  • Para resistências inferiores a 2100 Ω também será feita a medição da indutância, se o seu ATmega tiver pelo menos 16K de memória flash. Para isso, um ícone de indutor é mostrado atrás do ícone de resistor. O intervalo será de cerca de 0,01mH a mais de 20H, mas a precisão não é boa. O resultado da medição só é apresentado com um único componente ligado.
  • O tempo de teste é de cerca de dois segundos, apenas a medição da capacidade ou da indutância pode causar um período mais longo.
  • O software pode ser configurado para permitir uma série de medições antes de a alimentação ser desligada.
  • Função de autoteste incorporada com um gerador de frequência de 50 Hz opcional para verificar a exatidão da frequência do relógio e das chamadas de espera (apenas para processadores com pelo menos 32K de memória flash).
  • Função selecionável para calibrar a resistência interna da porta de saída e o desvio de zero da medição de capacidade com o autoteste (apenas para processadores com pelo menos 16K de memória flash). É necessário um condensador externo com um valor entre 100nF e 20μF ligado ao pino 1 e ao pino 3 para compensar a tensão de desvio do comparador analógico. Isto pode reduzir os erros de medição de condensadores de até 40μF. Com o mesmo condensador, é encontrada uma tensão de correção para a tensão de referência interna para ajustar o ganho para a medição ADC com a referência interna.
  • Apresentar a corrente de corte do coletor ICE0 com base sem corrente (unidades de 1μA) e a corrente residual do coletor ICES com retenção de base ao nível do emissor (apenas para processadores com pelo menos 16K de flash). Estes valores só são apresentados se não forem zero (especialmente para transístores de germânio).
  • Com a função de diálogo, pode utilizar uma medição de frequência na porta PD4 do ATmega. A resolução é de 1Hz para frequências de entrada acima de 25kHz. Para frequências mais baixas, a resolução pode ser de até 0,001mHz, medindo o período médio. Deve ler a subsecção Medição de frequência 2.2.4 na página 13 para obter detalhes sobre a ligação de um sinal de frequência.

Atenção: Certifique-se sempre de que descarrega os condensadores antes de os ligar ao Dispositivo de Teste! O Testador pode ser danificado antes de ser ligado. Existe apenas uma pequena proteção nas portas ATmega. É necessário um cuidado extra se tentar testar componentes montados num circuito. Em qualquer dos casos, o equipamento deve ser desligado da fonte de alimentação e deve certificar-se de que não existe nenhuma tensão residual no equipamento.

Lista de material para montar transistor tester, M328

Valor nome Descrição Quantidade
Resistores 1/4W
680R R1,R3,R5 Azul, cinzento, preto, preto, castanho 3
470k R2,R4,R6 Amarelo, violeta, preto, laranja, marrom 3
33k R8 Laranja, laranja, preto, vermelho, marrom 1
3k3 R9,R13 Laranja, laranja, preto, marrom, marrom 2
100k R11 Brown, preto, preto, laranja, marrom 1
10k R12,R7,R23,R26,R27,R28 Marrom, preto, preto, vermelho, marrom 6
220R R14 Vermelho, vermelho, preto, preto, marrom 1
27k R15,R10 Amarelo, violeta, preto, vermelho, marrom 2
2k2 R17 Vermelho, vermelho, preto, castanho, marrom 1
1k R24,R25 Marrom, preto, preto, marrom, marrom 2
Semicondutores
ATMEGA328P U1 Microcontrolador Microchip AVR 1
HT7550-1 U2 100mA regulador de tensão LDO 5V 1
TL431 U3 Regulador shunt ajustável de três terminais 1
LED LED1 Led 3 mm vermelho 1
BC557 Q1 Transistor PNP 1
BC547 Q2,Q3 Transistor NPN 2
Capacitores
100nF C11,C3,C6,C7,C10 Capacitor cerâmico 5
10uF C8,C5 Capacitor eletrolítico 2
22pF C1,C2 Capacitor cerâmico 2
10nF C4 Capacitor cerâmico 1
1nF C9 Capacitor cerâmico 1
1206 REF1,REF2 Capacitor cerâmico 1206 (Opcional em vez de C8, C5) 2
Diversos
SOCKET_TFXTOOL ZIF1 Conector ZIF dip 14 1
ENCODER SW1 Codificador rotativo 1
TP1 P1 HDR-1 × 1/2.54 1
TP2 P2 HDR-1 × 1/2.54 1
TP3 P3 HDR-1 × 1/2.54 1
BAT+ P4 HDR-1 × 1/2.54 1
BAT- P5 HDR-1 × 1/2.54 1
F_IN P6 HDR-1 × 1/2.54 1
GND P7 HDR-1 × 1/2.54 1
8M X1 HC49S — Cristal 8 MHz 1
JLX12864G-378_SHORT LCD1 LCD display JLX12864G-378 1

 

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Fonte: https://oshwlab.com/wegi1/m328-transistor-tester

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Sobre o Autor
Autor do blog Te1.com.br. Técnico em Eletrônica Industrial pela Escola Técnica de Brasília, Tecnólogo em Sistemas para Internet pela Unianhanguera. Interessado em eletrônica, montagens, pesquisas, informática e tecnologia em geral.
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